SJ 20176-1992《半導體分立器件 ３ＤＧ３４３９型和３ＤＧ３４４０型ＮＰＮ硅小功率高反壓晶體管詳細規(guī)范》基本信息

標準號：

SJ 20176-1992

中文名稱：

《半導體分立器件 ３ＤＧ３４３９型和３ＤＧ３４４０型ＮＰＮ硅小功率高反壓晶體管詳細規(guī)范》

發(fā)布日期：

1992-11-19

實施日期：

1993-05-01

發(fā)布部門：

中國電子工業(yè)總公司

提出單位：

中國電子工業(yè)總公司科技質量局

歸口單位：

中國電子技術標準化研究所

起草單位：

中國電子技術標準化研究所和國營八二三一廠

起草人：

王長福、吳鑫奎、龔云

中國標準分類號：

D01技術管理

SJ 20176-1992《半導體分立器件 ３ＤＧ３４３９型和３ＤＧ３４４０型ＮＰＮ硅小功率高反壓晶體管詳細規(guī)范》介紹

中國電子工業(yè)總公司于1992年發(fā)布了《半導體分立器件 3DG3439型和3DG3440型NPN硅小功率高反壓晶體管詳細規(guī)范》（以下簡稱"SJ 20176-1992標準"），并于1993年5月1日起正式實施。

一、技術要求

1、外觀質量

晶體管的外觀應無裂紋、無明顯變形，表面應清潔、無油污、無銹蝕，引腳應無折斷、無彎曲。

2、電性能參數

晶體管的電性能參數應滿足標準規(guī)定的要求，包括集電極-發(fā)射極擊穿電壓、集電極電流、電流放大系數等。

3、溫度特性

晶體管在規(guī)定的溫度范圍內應具有良好的溫度特性，包括溫度系數、溫度穩(wěn)定性等。

4、可靠性

晶體管應具有良好的可靠性，包括長時間工作穩(wěn)定性、抗靜電能力等。

二、試驗方法

1、外觀檢查

對晶體管的外觀進行目視檢查，以確保其滿足外觀質量要求。

2、電性能測試

對晶體管的電性能參數進行測試，以評估其性能是否符合標準要求。

3、溫度特性測試

對晶體管在不同溫度下的性能進行測試，以評估其溫度特性。

4、可靠性測試

對晶體管進行長時間工作、抗靜電等可靠性測試，以評估其可靠性。

三、檢驗規(guī)則

1、檢驗分類

晶體管的檢驗分為型式檢驗和出廠檢驗。

2、抽樣規(guī)則

對晶體管進行抽樣檢驗，以評估其整體質量。

3、合格判定

根據檢驗結果，對晶體管進行合格判定。

四、標志、包裝、運輸和儲存

1、標志

晶體管應有清晰的型號、規(guī)格、生產日期等標志。

2、包裝

晶體管的包裝應符合標準要求，以保護晶體管在運輸過程中不受損壞。

3、運輸

晶體管在運輸過程中應避免劇烈震動、高溫等不利因素。

4、儲存

晶體管應儲存在干燥、通風、無腐蝕性氣體的環(huán)境中。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。